Santec 圣德科 TSL-580 第八代高性能窄线宽可调激光器

全系通用核心光学参数 1. 波长调谐性能 标准调谐波段：1240 ~ 1640 nm（分段可选：O/ES/C+L 波段） 波长设置分辨率：0.1 pm 精细微调范围：±100 pm，0.01 pm 步进 扫描速度：1 ~ 200 nm/s（双向扫描） 扫描线性度：＜5%（相比 TSL-570 提升一倍） 无跳模连续扫描，内置相干度控制抑制干涉纹波 2. 输出功率与噪声（核心优势） 峰值输出功率：＞+15 dBm（30mW），全波段平坦度优于 TSL-570 功率动态衰减：30 dB，调节步进 0.01 dB，功率稳定度 ±0.01 dB 光谱信噪比 SNR：≥90 dB/0.1 nm，极低 ASE 底噪 边模抑制比 SMSR：典型≥45 dB 相对强度噪声 RIN：≤-148 dB/Hz（1MHz–3GHz） 光纤输出：标配 SMF 单模；可选 PM 保偏光纤；接头 FC/APC、SC/APC 可选 内置实时光功率监控端口 输出功率曲线 20kHz窄线宽光谱图 3. 通讯与控制 标配接口：触摸屏、USB2.0、GPIB、以太网（远程控制 / 唤醒） 指令集：标准 SCPI，完美适配自动化测试平台 扫描模式：单次 / 连续 / 外部同步触发扫描 4. 环境规格 工作温度：15 ~ 35 ℃ 存储温湿度：-10~50℃，湿度＜80% 无凝露 四、型号命名示例 TSL-580-Q-500640-S-F-AP Q = 窄线宽 20kHz 版本；500640=C+L 1500–1640nm；S=SMF 单模；F=FC；AP=APC 端面 五、典型应用场景 硅光 / CPO 共封装光学高损耗光栅耦合测试（Type P） 量子光子、光纤干涉传感、高精度光谱测量（Type Q） 800G/1.6T 光模块、DWDM 滤波器、WSS、光纤光栅精密表征 高速自动化产线扫描测试（200nm/s 高速扫描 + 高线性度） 高插入损耗无源器件、集成光子芯片损耗 / PDL/WDL 测试 六、TSL-580 vs TSL-570 关键升级点 输出功率：TSL570 标准 + 13dBm，TSL580 提升至+15dBm； 窄线宽能力：TSL570 最低～60kHz，TSL580 Q 型可达20kHz； 扫描线性度：TSL580 线性度＜5%，比上代提升一倍； 腔体全新重构，功率平坦度、波长长期稳定性全面优化； 2026 年全新第八代机型，面向下一代光子学研发与量产测试。