求购 Santec 圣德科 TSL-570 可调光源

波长性能 全波段覆盖：1240 ~ 1680nm，分段可选：Ext O/O/ES/Ext ES/SCL/C+L/U 波段 波长分辨率：0.1 pm（行业顶级） 精细微调范围：±100 pm（0.01pm 步进），也支持 10GHz 大范围细调 扫描速度：1 ~ 200 nm/s（上代 TSL550 最高 100nm/s，速度翻倍） 密封无跳模外腔，全波段连续调谐无断光 2. 输出功率与噪声（核心优势） 标准 A/C/P 型最大输出：＞+13 dBm，全波段＞+10 dBm，边缘波段最低＞+7 dBm 功率动态衰减：30dB，调节步进 0.01dB；功率稳定度 ±0.01dB 光谱信噪比 SNR：≥90 dB/0.1nm，极低 ASE 噪声 边模抑制 SMSR：典型≥45dB 相对强度噪声 RIN：≤-145 dB/Hz（1MHz–3GHz） 内置相干度控制 Coherence Control，抑制干涉纹波 光纤：标配 SMF 单模；可选 PM 保偏光纤；接头 FC/APC、SC/PC 可选 3. 控制与通讯接口 标配：触摸屏、USB、GPIB、以太网（支持 WoL 远程唤醒） 指令集：标准 SCPI，完美自动化测试系统 扫描模式：单次 / 连续 / 外部触发同步扫描 内置光功率监控端口，实时读取输出功率 四、型号命名举例 TSL-570-P-500630-S-F-AP P = 超高精度；500630=C+L 波段 1500–1630nm；S = 单模光纤；F=FC；AP=APC 端面 五、典型应用场景 CPO / 硅光 / 光子集成芯片 WDL、PDL、损耗测试（优先 P/U 型） 800G/1.6T 光模块、LAN-WDM、DWDM 滤波器、WSS、光栅高精度测试 光纤传感、干涉光谱、量子光学精密实验 高速自动化产线扫描测试（200nm/s 大幅缩短测试时间） 高损耗器件、无源耦合器件大功率测试（H/U 型） 补充对比：TSL510 / TSL550 / TSL570 关键差异 屏幕：510/550 按键屏，570 触控屏； 扫描速度：510 最高 100nm/s，550 最高 100nm/s，570 最高 200nm/s； 最高精度：510±5pm，550±5pm，570 最高 ±2pm (Type P)； 功率上限：510/550 最大 + 13dBm，570 可到 + 20 (H)/+25dBm (U)； 接口：570 新增以太网远程唤醒，自动化更友好