求购 Santec 圣德科 TSL-550 可调光源

波长调谐特性 连续无跳模调谐范围：1260 ~ 1680nm，分段波段可选： O (1260-1360)、ES (1355-1485)、SCL (1480-1630)、CL (1500-1630)、U (1560-1680) 波长设置分辨率：0.1 pm 精细微调范围：±100 pm，0.01pm 步进 扫描速度：2 ~ 100 nm/s，扫描重复频率为上代机型 2 倍 标配相干度可调（Coherence Control），抑制干涉噪声 2. 输出功率与噪声（核心优势） 最大输出功率：+13 dBm（全波段典型≥+10dBm） 功率动态衰减范围：30 dB，调节步进 0.01 dB 信噪比 SNR：≥90 dB/0.1nm（远高于 TSL-510），极低 ASE 噪声 光纤输出：标配 SMF 单模，可选 PM 保偏光纤；接头 FC/APC、SC/PC 可选 内置光功率监控端口（标配） 偏振消光比（PM 版本）：典型 17 dB 3. 控制与接口 通讯接口：GPIB (IEEE488.2)、USB、RS232C 指令集：标准 SCPI，兼容自动化测试系统 扫描模式：单次 / 连续 / 外部触发同步扫描 激光等级：Class 1M（IEC60825-1） 4. 机械与环境规格 尺寸：宽 210 × 深 440 × 高 110 mm（半机架） 重量：6.5 kg 供电：AC 100–240V 50/60Hz 工作温度：10 ~ 35 ℃，最佳 25±1℃ 存储温湿度：-10~50℃，相对湿度 20%~80% 无凝露 四、型号命名规则举例 TSL-550-C-500630-S-F-AP C = Type C 高精度；500630 = C+L 波段 1500–1630nm；S=SMF 单模；AP=FC/APC 接头 五、典型应用 DWDM 滤波器、WSS、交织器、光纤光栅高精度测试 光子芯片、硅光、集成光波导损耗 / 波长相关损耗测试 光纤传感、干涉测量、光谱科研实验 产线自动化高速扫描测试（搭配 Santec MPM 多通道功率计、PCU 偏振控制器）